【第一參賽人/留學人員】李作棟
【留學國家】美國
【技術領域】高端裝備與新能源汽車
【參賽屆次】第10屆
【所獲獎項】入圍
【項目簡介】
項目聚焦于半導體光學外觀缺陷檢測，利用人工智能檢查制造工藝的合規性，高精度高效地檢出產成品的缺陷。針對半導體芯片缺陷檢測“缺陷難發現”、“檢測精度與效率低”和“新缺陷易遺漏”的三大技術難點問題，公司研發了“自適應光源控制系統”、“基于分治策略的人工智能視覺識別算法”和“正樣本學習”三大核心技術，來解決上述難點問題，在效率、精度、人力和成本上取得了極大的優勢，將檢測精度率穩定在99.9%以上。項目專注在LED半導體檢測領域與三安光電集團合作了針痕外觀缺陷檢測等舊型生產線改造業務，并在國產廠商中率先交付了99.9%檢測精度的LED外觀機。目前該產品已經具備批量交付能力，獲得了三安光電及聚燦光電的20臺訂單。隨著AOI外觀機的交付，公司成功研發了第二款標準化產品自動鏡檢機。
【展開】
【收起】